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學經歷： |
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澳洲南澳大利亞大學製造工程博士
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專業技術 |
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光機電系統設計與整合、3D機器視覺技術、微奈米量測、自動化光學檢測、DSP影像處理技術、智慧型自動化系統 |
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| 研發介紹 |
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◎ 榮譽 |
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1998 澳洲 CLIPSAL 公司優秀職員獎
2006年國立台北科技大學年度傑出研究獎 |
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◎ 專利 |
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1 振動位移與振動頻率決定方法與其裝置
2 金屬奈米顆粒流體自動線上取樣裝置與技術
3 共焦顯微形貌量測方法與裝置
4 一種影像亮度不均瑕庛的檢測方法
5 即時同步產生干涉影像之方法及其裝置與解析相位之方法
6 動態量測干涉訊號解析之方法
7 一種三維精密齒型快速輪廓掃描裝置與技術
8 一種組織斷層掃描系統與方法
9 面外位移特徵鑑別方法及使用該方法之共振頻率鑑別方法與裝置
10 一種平面顯示器Mura瑕疵檢測方法 |
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| 專利介紹 |
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微型三維輪廓掃描器 |
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本發明系為一種微型三維輪廓掃描器，藉由將光學投影單元與影像擷取單元之光學元件與光鏡組整合於一微型量測...... |
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精密齒型快速輪廓掃描 |
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本發明一種三維精密齒型快速輪廓掃描裝置與技術，俾藉由將兩組對稱之雷射光學投影單元與影像擷取單元之光學...... |
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組織斷層掃描 |
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一種組織斷層掃描系統與方法，乃關於一種創新型可移動式之精密三維表面輪廓及次表面量測探頭與系統，並以數...... |
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攜式數位光學三維輪廓量測 |
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本發明係為一種可攜式數位光學三維輪廓量測系統與方法，應用於一般生產製程、線上或狹窄空間內精密元件或精...... |
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光學量測標準表面之處理方法 |
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本發明之目的即在於提供一種光學量測標準表面之處理方法，係可防止眩光發生，同時兼顧到光學量測平面對於尺...... |
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共焦顯微形貌量測方法與裝置 |
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本發明提供一種共焦顯微形貌量測方法與裝置，其係藉由分光模組與控制不同厚度之折射元件，使影像擷取裝置擷...... |
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同時干涉量測裝置與方法 |
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本發明提供一種即時同步產生干涉影像之方法，其係包括有下列步驟：將一偏極光分成一第一道偏極光以及一第二...... |
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動態量測干涉訊號解析之方法 |
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一種動態量測干涉訊號解析之方法，適用於量測待測物之動態特性，此動態量測干涉訊號解析之方法包括下列步驟...... |
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抗振型干涉掃描系統及其方法 |
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一種抗振型干涉掃描系統與其方法，係對和一待測物之表面形貌相關的一高同調性干涉圖案之灰度分佈進行分析，...... |
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頻閃式光學影像映射系統 |
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The present invention provides a stroboscopic opti...... |
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線型彩色共焦顯微系統 |
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The present invention provides a chromatic confoca...... |
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頻閃式光學影像映射系統 |
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本發明提供一種頻閃式光學影像映射系統，其係包括一控制模組、一光源模組以及一影像擷取單元。該控制模組係...... |
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影像對位裝置 |
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一種影像對位裝置，係以影像辨識之方式辨識出第一物體所具有之複數個第一對位標記與第二物體所具有之第二對...... |
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頻閃式光學影像映射裝置 |
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本發明提供一種頻閃式光學影像映射系統，其係包括一控制模組、一光源模組以及一影像擷取單元。該控制模組係...... |
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