專利授權


相位資訊擷取方法及其三維形貌量測系統 


專利名稱 相位資訊擷取方法及其三維形貌量測系統
專利國家
   專利證書號
中華民國 I409502
專利權人 國立台北科技大學
發明人 陳亮嘉、何宣瑋、Nguyen-Xuan-Loc
應用領域
需求項目









技術摘要


本發明對於頻譜影像中擷取關於相位資訊的過程中,提出一種利用可貼近於頻譜影像中的有效信號頻譜區域外形之中通濾波器以取得對應該相位資訊之頻譜資訊。在一實施例中,利用該方法,可以將該中通濾波器之頻譜範圍進行最佳化,使得還原之表面形貌更精確。此外,利用該方法,本發明更提供一三維形貌量測系統,其係可擷取關於一物體之條紋影像,並且利用前述之相位資訊擷取方法對該條紋影像取得相位資訊,進而還原該物體表面之形貌。


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