專利授權


面外位移特徵鑑別方法及使用該方法之共振頻率鑑別方法與裝置 


專利名稱 面外位移特徵鑑別方法及使用該方法之共振頻率鑑別方法與裝置
專利國家
   專利證書號
中華民國 I311639
專利權人 國立台北科技大學
發明人 陳亮嘉、黃耀庭、張中柱、陳金亮
應用領域
需求項目









技術摘要


本發明提供一種面外位移特徵鑑別方法,其係可評估由一振動樣品根據不同頻率所產生之干涉影像之一空間頻域資訊以得到之干涉條紋密度指標資訊(fringe density index),以藉由該干涉條紋密度指標資訊判斷該振動樣品於空間中之面外位移特徵。此外,本發明更提供一種共振頻率鑑別方法以及其裝置,其係利用同步控制架構進行掃頻以擷取振動樣品之干涉影像,並利用演算法進行影像解析尋找出干涉影像之干涉條紋密度指標資訊以進行共振頻率鑑別之程序,進而建立該振動樣品於各個共振模態下之全域表面輪廓。


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