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新型鈮酸鋰濕式蝕刻技術 提升光積體電路元件效能
 
專利名稱 藉由電場輔助質子交換之鈮酸鋰濕式蝕刻法
專利證書號 I241650
專利權人 台北科技大學
專利國家 台灣 ,
發明人 王子建、黃志峰、王維新
應用領域 光電
需求項目
 
專利商品特色:
本專利提出電場輔助質子交換之新型鈮酸鋰濕式蝕刻技術,經由設計材料內的電場分布與強度,可控制蝕刻區域的側壁輪廓,達到各種角度的傾斜,甚至獲得垂直的蝕刻側壁。所提出的蝕刻技術兼具乾式蝕刻和濕式蝕刻的優點,如:蝕刻表面平整、蝕刻深度大、可控制的蝕刻側壁輪廓、製作成本低廉等,未來具有量產的潛力。應用於積體光學元件的製作上,將可縮小元件體積、提昇元件效率,在進行元件積體整合下,將可進一步提昇光積體電路單一晶片的效能,對未來的普及應用,具有很大的助益。




專利商品技術說明:
本發明為一種新穎應用外加電場控制濕式蝕刻區域輪廓的技術,利用電場輔助質子交換,結合氫氟酸與硝酸混合液蝕刻鈮酸鋰區域反轉區域的特性,來達成控制蝕刻鈮酸鋰區域輪廓的目的。藉著適當設計的電極結構和外加的電壓,可以改變質子擴散的方向和速率,進而控制蝕刻側壁的傾斜角,甚至使其和基板垂直。新型濕式蝕刻法具有以下優點:(1)蝕刻表面平整;(2)蝕刻深度大;(3)可控制的蝕刻側壁輪廓;(4)製作成本低廉,具有未來量產的潛力。應用此項技術 將可在鈮酸鋰上製作如可調式光衰減器、大角度彎曲波導和大分岔角的功率分離器等各式多樣化的元件。



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