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一種影像亮度不均瑕疵的檢測方法
　Non-uniform image defect inspection method


專利名稱 / Patent Title 一種影像亮度不均瑕疵的檢測方法
Non-uniform image defect inspection method
專利國家 / Country
   專利證書號 / Registration Number
美國 / US　US8,145,008B2
專利權人 / Applicant 國立臺北科技大學 / National Taipei University of Technology
發明人 / Inventor 陳亮嘉/ Liang-Chia Chen, 郭家成/ Chia-Cheng Kuo

專利詳細說明
Patent Details

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技術摘要 / Abstract


A non-uniform image defect inspection method includes steps of inputting an original two-dimensional image; separating a non-uniform background image from the original two-dimensional image by Discrete Cosine Transform (DCT) to obtain a residual image without the non-uniform background image; binarization segmenting the residual image to extract defects from the residual image, wherein the segmented defects are the inspection results.


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