可授權專利


應用於高鏡面反射曲面之瑕疵檢測光源 Defect inspection light source for high curvature and reflective specimen 


專利名稱 具狹縫結構之瑕疵檢測光源裝置與利用該光源裝置之瑕疵檢測系統
專利國家
   專利證書號
中華民國 I644096
專利權人 國立台北科技大學
發明人 何昭慶、游原瑋
應用領域
需求項目









技術摘要


本發明提供一瑕疵檢測光源裝置,包括有一殼體、一發光源、一分光元件以及一遮光元件。該殼體,具有一第一出光面以及與該第一出光面相對應的一第二出光面。該發光源,用以產生一檢測光,該發光源設置於該殼體內之一側。該分光元件,設置於該殼體內部,且位於該檢測光的光路上。該遮光元件,設置於該第一出光面上,該遮光元件上具有一狹縫結構,可遮擋外界不必要光源。利用該光源裝置,可以架構一檢測系統用以檢測高反光鏡面且具有曲度的待測物。


專利商品特色




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