可授權專利


複合段差式雙捲線電極加工系統(微型三次元量測機用之超微細球狀探針成型加工技術 


專利名稱 超微細球狀探針加工機
專利國家
   專利證書號
中華民國 I353903?
專利權人 國立台北科技大學
發明人 許東亞
應用領域
需求項目









技術摘要


本發明係提供一種超微細球狀探針加工機,其包含:一夾具、一供線軸、一收線軸、一絕緣滾輪、一導線體、一放電回路及一承載台,其中,夾具夾持一電極棒狀體,承載台承載一微細球體,絕緣滾輪位於夾具之一側。藉此,本發明之超微細球狀探針加工機可於同一機台形成微細電極工具後,再藉由沾粘製程成型微型三次元量測機用之超微細球狀探針。


專利商品特色




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