可授權專利


一種薄膜電晶體液晶顯示器Mura瑕疵檢測技術 


專利名稱 一種影像亮度不均瑕疵的檢測方法
專利國家
   專利證書號
美國 US8,145,008B2
專利權人 國立台北科技大學
發明人 陳亮嘉、郭家成
應用領域
需求項目









技術摘要


A non-uniform image defect inspection method includes steps of inputting an original two-dimensional image; separating a non-uniform background image from the original two-dimensional image by Discrete Cosine Transform (DCT) to obtain a residual image without the non-uniform background image; binarization segmenting the residual image to extract defects from the residual image, wherein the segmented defects are the inspection results.


專利商品特色




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