一種數位結構光微三維共焦表面輪廓量測系統與方法 
專利名稱 |
一種數位結構光微三維共焦表面輪廓量測系統與方法 |
專利國家 專利證書號 |
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專利權人 |
國立台北科技大學 |
發明人 |
陳亮嘉、高偉傑 |
應用領域 |
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需求項目 |
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技術摘要
一種數位結構光微三維共焦表面輪廓量測系統與方法,包括一光學投影單元、一影像擷取單元、一精密平移台單元與一主控制單元;將待測物置於該精密平移台單元上,由該主控制單元編寫並由該光學投影單元之投影機產生一任意圖案之數位結構光源,並經由該光學投影單元之光學投影鏡組進行該圖案之對焦與縮影,並考慮待測物之表面特性調整至最佳化光強,將該光源投射至該待測物上,再由該影像擷取單元擷取該待測物表面反射訊號,並將擷取之訊號傳輸至該主控制單元,進行分析影像點之聚焦函數,以推算出待測物之三維高度,進而獲得待測物表面精確之三維輪廓資訊;其中該數位結構光源之圖案可為一沿水平與垂直方向正弦變化之數位結構光圖案,用以投影至待測物表面,以提高量測之空間解析。
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