可授權專利


一種可攜式數位光學三維輪廓量測系統與方法 


專利名稱 一種可攜式數位光學三維輪廓量測系統與方法
專利國家
   專利證書號
中華民國 I258000
專利權人 國立台北科技大學
發明人 陳亮嘉、黃宗治
應用領域
需求項目









技術摘要


本發明係為一種可攜式數位光學三維輪廓量測系統與方法,應用於一般生產製程、線上或狹窄空間內精密元件或精密裝置的品管與檢驗,或其它像生醫檢驗等廣泛用途,以進行三維物體表面輪廓之非接觸式量測,而輸出被測物體之二維影像及三維輪廓尺寸,其包括一光學投影單元,係可產生結構光圖譜;一可攜式微型量測探頭單元,係經由一影像光纖傳輸該結構光圖譜至該可攜式微型量測探頭單元,再將結構光圖譜放大並投射於一待測物表面,然後從待測物擷取變形之結構光條紋影像與待測物之二維影像;以及一主控制單元,係連接於該光學投影單元與該可攜式微型量測探頭單元,用以調控與輸出結構光圖譜和擷取與分析該變形結構光條紋影像。


專利商品特色




聯繫方式


聯絡人:專利技轉組
電 話:(02)2771-2171
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